Structural characterisation of GaP/Si nanolayers - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Structural characterisation of GaP/Si nanolayers

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00654330 , version 1 (21-12-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00654330 , version 1

Citer

Weiming Guo, Thanh Tra Nguyen, Antoine Létoublon, Georges Elias, Charles Cornet, et al.. Structural characterisation of GaP/Si nanolayers. European Materials Research Society 2011, May 2011, Strasbourg, France. ⟨hal-00654330⟩
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