How supercapacitors reach end of life criteria during calendar life and power cycling tests - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2011

How supercapacitors reach end of life criteria during calendar life and power cycling tests

Domaines

Electronique

Olivier Briat  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00641859

Soumis le : mercredi 16 novembre 2011-18:37:23

Dernière modification le : vendredi 9 février 2024-10:37:00

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Dates et versions

hal-00641859 , version 1 (16-11-2011)

Identifiants

Citer

Ramzi Chaari, Olivier Briat, Jean-Yves Delétage, Eric Woirgard, Jean-Michel Vinassa. How supercapacitors reach end of life criteria during calendar life and power cycling tests. Microelectronics Reliability, 2011, 51 (9-11), pp.1976-1979. ⟨10.1016/j.microrel.2011.07.014⟩. ⟨hal-00641859⟩

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