Communication Dans Un Congrès
Année : 2011
Claude Stolz : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00641838
Soumis le : mercredi 16 novembre 2011-17:58:21
Dernière modification le : mardi 27 août 2024-12:42:43
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00641838 , version 1
Citer
Claude Stolz, Nicolas Moes. Damage approaches by thick level-set : analytical solutions and simulations. 5th International Symposium on Defect and Material Mechanics, Jun 2011, Seville, Spain. ⟨hal-00641838⟩
Collections
226
Consultations
0
Téléchargements