Damage approaches by thick level-set : analytical solutions and simulations - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2011
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00641838 , version 1 (16-11-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00641838 , version 1

Citer

Claude Stolz, Nicolas Moes. Damage approaches by thick level-set : analytical solutions and simulations. 5th International Symposium on Defect and Material Mechanics, Jun 2011, Seville, Spain. ⟨hal-00641838⟩
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