Article Dans Une Revue
Thin Solid Films
Année : 2011
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https://hal.science/hal-00639937
Soumis le : jeudi 10 novembre 2011-11:30:13
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Citer
A. Gatoux, A. Ferri, M. Detalle, Denis Remiens, R. Desfeux. Characterizing nanoscale electromechanical fatigue in Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-PbTiO3 thin films by piezoresponse force microscopy. Thin Solid Films, 2011, 520, pp.591-594. ⟨10.1016/j.tsf.2011.07.032⟩. ⟨hal-00639937⟩
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