Characterizing nanoscale electromechanical fatigue in Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-PbTiO3 thin films by piezoresponse force microscopy - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Thin Solid Films Année : 2011

Characterizing nanoscale electromechanical fatigue in Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-PbTiO3 thin films by piezoresponse force microscopy

A. Gatoux
  • Fonction : Auteur
A. Ferri
M. Detalle
  • Fonction : Auteur
R. Desfeux

Dates et versions

hal-00639937 , version 1 (10-11-2011)

Identifiants

Citer

A. Gatoux, A. Ferri, M. Detalle, Denis Remiens, R. Desfeux. Characterizing nanoscale electromechanical fatigue in Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-PbTiO3 thin films by piezoresponse force microscopy. Thin Solid Films, 2011, 520, pp.591-594. ⟨10.1016/j.tsf.2011.07.032⟩. ⟨hal-00639937⟩
21 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More