The impact of oxide properties on resistive RAM electrical characteristics - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

The impact of oxide properties on resistive RAM electrical characteristics

C. Guedj
  • Fonction : Auteur
J.F. Nodin
  • Fonction : Auteur
A. Persico
  • Fonction : Auteur
H. Feldis
  • Fonction : Auteur
S. Minoret
  • Fonction : Auteur
A. Roule
  • Fonction : Auteur
H. Grampeix
  • Fonction : Auteur
A. Fantini
  • Fonction : Auteur
L. Perniola
  • Fonction : Auteur
G. Auvert
  • Fonction : Auteur
J.P. Barnes
  • Fonction : Auteur
E. Martinez
Pierre Calka
S. Favier
  • Fonction : Auteur
J. Buckley
B. de Salvo
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00625271 , version 1 (21-09-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00625271 , version 1

Citer

V. Jousseaume, C. Guedj, J.F. Nodin, A. Persico, H. Feldis, et al.. The impact of oxide properties on resistive RAM electrical characteristics. 2010 MRS Spring Meeting, 2010, San Francisco (USA), United States. ⟨hal-00625271⟩
129 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More