Reflection ellipsometry for in-situ measurements of complex permittivity and thickness of a single-layer material at microwave frequencies : Theory and Experiments - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2002

Reflection ellipsometry for in-situ measurements of complex permittivity and thickness of a single-layer material at microwave frequencies : Theory and Experiments

F. Sagnard
  • Fonction : Auteur
D. Seetharamdoo
Christophe Vignat
Laboratoire d'Informatique Gaspard-Monge
CV

Domaines

Informatique et langage [cs.CL]

Christophe Vignat  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00621814

Soumis le : dimanche 11 septembre 2011-13:14:31

Dernière modification le : jeudi 19 décembre 2024-16:50:03

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00621814 , version 1 (11-09-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00621814 , version 1

Citer

F. Sagnard, D. Seetharamdoo, Christophe Vignat. Reflection ellipsometry for in-situ measurements of complex permittivity and thickness of a single-layer material at microwave frequencies : Theory and Experiments. 32nd EUMC, Sep 2002, Milan, France. 10pp. ⟨hal-00621814⟩

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