Evaluation of electrical characteristics in fully depleted SOI MOSFETs for variable threshold voltage scheme. - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Evaluation of electrical characteristics in fully depleted SOI MOSFETs for variable threshold voltage scheme.

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00604515 , version 1 (29-06-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00604515 , version 1

Citer

A. Ohata, S. Cristoloveanu. Evaluation of electrical characteristics in fully depleted SOI MOSFETs for variable threshold voltage scheme.. 6th EUROSOI Workshop, Jan 2010, Grenoble, France. ⟨hal-00604515⟩
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