Article Dans Une Revue
Applied Physics Letters
Année : 2011
Chahla Domenget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00596188
Soumis le : jeudi 26 mai 2011-16:34:22
Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-11:28:54
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00596188 , version 1
Citer
Y. Xu, T. Minari, T. Kazuito, R. Gwoziecki, F. Balestra, et al.. Diagnosis of low-frequency noise sources in contact resistance of staggered organic transistors. Applied Physics Letters, 2011, 98, pp.033505. ⟨hal-00596188⟩
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