Epitaxial Growth and Electrical Properties of Thick SmSi2 Layers on (001) Silicon - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Japanese Journal of Applied Physics, part 1 : Regular papers, Short Notes Année : 2010

Epitaxial Growth and Electrical Properties of Thick SmSi2 Layers on (001) Silicon

Natalie O.V. Plank
  • Fonction : Auteur
Bart M. Ludbroo
  • Fonction : Auteur
Thom Minnee
  • Fonction : Auteur
Ben. J. Ruck
  • Fonction : Auteur
H. J. Trodahl
  • Fonction : Auteur
John V. Kennedy
  • Fonction : Auteur

Résumé

We report on the growth of thick (up to 1.2 µm) epitaxial samarium disilicide layers on (001) oriented silicon substrates. The films have the bulk tetragonal SmSi2 structure and composition, and grow with a preferential orientation SmSi2[100] ∥ Si[110]. A surface reconstruction transition from (1×1) to (2×2) appears below ∼525 °C. Transport measurements show an n-type metallic conduction with a room temperature resistivity of 175 µΩ cm decreasing to 85 µΩ cm at 4 K, and a carrier concentration of 1.3 ×1022 cm-3.

Domaines

Matériaux
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00585566 , version 1 (13-04-2011)

Identifiants

Citer

Franck Natali, Natalie O.V. Plank, Bart M. Ludbroo, Jan Richter, Thom Minnee, et al.. Epitaxial Growth and Electrical Properties of Thick SmSi2 Layers on (001) Silicon. Japanese Journal of Applied Physics, part 1 : Regular papers, Short Notes, 2010, 49, 025505 (3 p.). ⟨10.1143/JJAP.49.025505⟩. ⟨hal-00585566⟩
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