Study of nano-domains by piezoresponse force microscopy of relaxor PMN-PT thin films : influence of the annealing temperature, film thickness and composition - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Study of nano-domains by piezoresponse force microscopy of relaxor PMN-PT thin films : influence of the annealing temperature, film thickness and composition

M. Detalle
  • Fonction : Auteur
R. Liang
  • Fonction : Auteur
Caroline Soyer
Denis Remiens
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
X. Dong
  • Fonction : Auteur

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https://hal.science/hal-00575749

Soumis le : vendredi 11 mars 2011-09:22:22

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

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Dates et versions

hal-00575749 , version 1 (11-03-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00575749 , version 1

Citer

M. Detalle, R. Liang, Caroline Soyer, Denis Remiens, X. Dong. Study of nano-domains by piezoresponse force microscopy of relaxor PMN-PT thin films : influence of the annealing temperature, film thickness and composition. European Materials Research Society Spring Meeting, E-MRS Spring 2009, Symposium H : Synthesis, Processing and Characterization of Nanoscale Multi Functional Oxide Films II, 2009, Strasbourg, France. ⟨hal-00575749⟩

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