Caractérisation électrique de défauts ponctuels atomiques uniques dans un semi-conducteur - Archive ouverte HAL Access content directly
Conference Papers Year : 2009

Caractérisation électrique de défauts ponctuels atomiques uniques dans un semi-conducteur

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Dates and versions

hal-00575347 , version 1 (10-03-2011)

Identifiers

  • HAL Id : hal-00575347 , version 1

Cite

B. Grandidier. Caractérisation électrique de défauts ponctuels atomiques uniques dans un semi-conducteur. Journées Nanomicrotechnologies, 2009, Paris, France. ⟨hal-00575347⟩
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