Kelvin force microscopy for n- and p-type GaN surface characterization - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2009
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00575345 , version 1 (10-03-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00575345 , version 1

Citer

Thierry Melin, Koku Kusiaku, Sophie Barbet, D. Deresmes, Didier Theron, et al.. Kelvin force microscopy for n- and p-type GaN surface characterization. Worskhop on Compound Semiconductor Materials and Devices, WOCSEMMAD'09, 2009, Fort Myers, FL, United States. ⟨hal-00575345⟩
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