Communication Dans Un Congrès
Année : 2009
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https://hal.science/hal-00575345
Soumis le : jeudi 10 mars 2011-10:10:04
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00575345 , version 1
Citer
Thierry Melin, Koku Kusiaku, Sophie Barbet, D. Deresmes, Didier Theron, et al.. Kelvin force microscopy for n- and p-type GaN surface characterization. Worskhop on Compound Semiconductor Materials and Devices, WOCSEMMAD'09, 2009, Fort Myers, FL, United States. ⟨hal-00575345⟩
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