Caractérisation de défauts atomiques uniques dans un semiconducteur - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Caractérisation de défauts atomiques uniques dans un semiconducteur

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00575341 , version 1 (10-03-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00575341 , version 1

Citer

B. Grandidier. Caractérisation de défauts atomiques uniques dans un semiconducteur. Journées Nanomicrotechnologies : Surfaces et nanostructures - Analyses, mesures et modélisations, 2009, Paris, France. ⟨hal-00575341⟩
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