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Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Electrostatic properties of doped silicon nanocrystals probed by Kelvin force microscopy

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00575340 , version 1 (10-03-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00575340 , version 1

Citer

Lukasz Borowik, Koku Kusiaku, Didier Theron, Heinrich Diesinger, D. Deresmes, et al.. Electrostatic properties of doped silicon nanocrystals probed by Kelvin force microscopy. Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2009, Neufchâtel, France. ⟨hal-00575340⟩
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