Communication Dans Un Congrès
Année : 2009
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https://hal.science/hal-00575300
Soumis le : jeudi 10 mars 2011-09:32:19
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00575300 , version 1
Citer
A. Gokarna, A. Stolz, El Hadj Dogheche, Didier Decoster, J. Teng, et al.. Complete optical characterization of multilayered InxGa1-xN/GaN structures grown by MOCVD on sapphire substrates. 5th International Conference for Materials Advanced Technologies, ICMAT 2009, Symposium O: Compound Semiconductor Photonics: Materials, Devices and Integration, 2009, _, France. ⟨hal-00575300⟩
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