Characterization of black silicon structural and electrical properties for photovoltaics applications - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Characterization of black silicon structural and electrical properties for photovoltaics applications

R. Torres
  • Fonction : Auteur
Thomas Derrien
CV
V. Vervisch
  • Fonction : Auteur
Mathieu Halbwax
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
F. Torregrosa
  • Fonction : Auteur
L. Roux
  • Fonction : Auteur
P. Delaporte
  • Fonction : Auteur
T. Sarnet
CV
M. Sentis
  • Fonction : Auteur

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https://hal.science/hal-00574120

Soumis le : lundi 7 mars 2011-11:36:15

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00574120 , version 1 (07-03-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00574120 , version 1

Citer

R. Torres, Thomas Derrien, V. Vervisch, Mathieu Halbwax, F. Torregrosa, et al.. Characterization of black silicon structural and electrical properties for photovoltaics applications. European Materials Research Society Spring Meeting, E-MRS Spring 2010, Symposium I : Advanced silicon materials research for electronic and photovoltaic applications II, 2010, Strasbourg, France. ⟨hal-00574120⟩

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