Communication Dans Un Congrès
Année : 2010
Collection IEMN : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00573559
Soumis le : vendredi 4 mars 2011-11:05:16
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00573559 , version 1
Citer
N. Waldhoff, Y. Tagro, L. Poulain, D. Gloria, Francois Danneville, et al.. Noise characterization of mmW Si devices using classical and in-situ experimental set up. European Microwave Week Workshops and Short Courses, Silicon Characterization from MHz to THz, 2010, Paris, France. ⟨hal-00573559⟩
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