Noise characterization of mmW Si devices using classical and in-situ experimental set up - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Noise characterization of mmW Si devices using classical and in-situ experimental set up

N. Waldhoff
  • Fonction : Auteur
Y. Tagro
  • Fonction : Auteur
L. Poulain
  • Fonction : Auteur
D. Gloria
  • Fonction : Auteur
Francois Danneville
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00573559 , version 1 (04-03-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00573559 , version 1

Citer

N. Waldhoff, Y. Tagro, L. Poulain, D. Gloria, Francois Danneville, et al.. Noise characterization of mmW Si devices using classical and in-situ experimental set up. European Microwave Week Workshops and Short Courses, Silicon Characterization from MHz to THz, 2010, Paris, France. ⟨hal-00573559⟩
22 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More