Croissance localisée, caractérisation structurale et électronique de nanofils silicium - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Autre Publication Scientifique Année : 2009

Croissance localisée, caractérisation structurale et électronique de nanofils silicium

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00572789 , version 1 (02-03-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00572789 , version 1

Citer

Tao Xu. Croissance localisée, caractérisation structurale et électronique de nanofils silicium. 2009. ⟨hal-00572789⟩
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