Croissance localisée, caractérisation structurale et électronique de nanofils silicium - Archive ouverte HAL Access content directly
Other Publications Year : 2009

Croissance localisée, caractérisation structurale et électronique de nanofils silicium

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Dates and versions

hal-00572789 , version 1 (02-03-2011)

Identifiers

  • HAL Id : hal-00572789 , version 1

Cite

Tao Xu. Croissance localisée, caractérisation structurale et électronique de nanofils silicium. 2009. ⟨hal-00572789⟩
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