Evaluation of parametric test metrics for mixed-signal/RF DFT solutions using statistical techniques - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Evaluation of parametric test metrics for mixed-signal/RF DFT solutions using statistical techniques

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Lucie Torella  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00558941

Soumis le : lundi 24 janvier 2011-15:08:50

Dernière modification le : mercredi 18 décembre 2024-09:23:53

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Dates et versions

hal-00558941 , version 1 (24-01-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00558941 , version 1

Citer

Salvador Mir, Haralampos-G Stratigopoulos, Mat. Dubois, Ahcène Bounceur. Evaluation of parametric test metrics for mixed-signal/RF DFT solutions using statistical techniques. Catrene European Nanoelectronics Design Technology Conference, Jun 2010, Grenoble, France. ⟨hal-00558941⟩

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