Nanoscale study by piezoresponse force microscopy of relaxor 0.7Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-0.3PbTiO3 and 0.9Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-0.1PbTiO3 thin films grown on platinum and LaNiO3 electrodes - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Thin Solid Films Année : 2010

Nanoscale study by piezoresponse force microscopy of relaxor 0.7Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-0.3PbTiO3 and 0.9Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-0.1PbTiO3 thin films grown on platinum and LaNiO3 electrodes

M. Detalle
  • Fonction : Auteur
A. Ferri
A. da Costa
  • Fonction : Auteur
R. Desfeux
Caroline Soyer

Dates et versions

hal-00549914 , version 1 (23-12-2010)

Identifiants

Citer

M. Detalle, A. Ferri, A. da Costa, R. Desfeux, Caroline Soyer, et al.. Nanoscale study by piezoresponse force microscopy of relaxor 0.7Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-0.3PbTiO3 and 0.9Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-0.1PbTiO3 thin films grown on platinum and LaNiO3 electrodes. Thin Solid Films, 2010, 518, pp.4670-4674. ⟨10.1016/j.tsf.2009.12.056⟩. ⟨hal-00549914⟩
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