Article Dans Une Revue
Journal of Physics: Conference Series
Année : 2010
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https://hal.science/hal-00549913
Soumis le : jeudi 23 décembre 2010-08:12:41
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00549913 , version 1
- DOI : 10.1088/1742-6596/214/1/012042
Citer
F. Lefevre, Frédéric Jenot, Mohammadi Ouaftouh, Marc Duquennoy, Mohamed Ourak. Silicon wafer characterisation by laser ultrasonics and neural networks. Journal of Physics: Conference Series, 2010, 214, pp.012042 -1-5. ⟨10.1088/1742-6596/214/1/012042⟩. ⟨hal-00549913⟩
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