Article Dans Une Revue
Surface and Interface Analysis
Année : 2010
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https://hal.science/hal-00549910
Soumis le : jeudi 23 décembre 2010-07:59:58
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Citer
L. Semra, A. Telia, A. Soltani. Trap characterization in AlGaN/GaN HEMT by analyzing frequency dispersion in capacitance and conductance. Surface and Interface Analysis, 2010, 42, pp.799-802. ⟨10.1002/sia.3462⟩. ⟨hal-00549910⟩
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