A fast moisture sensitivity level qualification method - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2010

A fast moisture sensitivity level qualification method

X. Ma
K.M.B. Jansen
  • Fonction : Auteur
G.Q. Zhang
  • Fonction : Auteur
W.D. van Driel
  • Fonction : Auteur
O. van Der Sluis
  • Fonction : Auteur
L.J. Ernst
  • Fonction : Auteur
Christian Gautier
  • Fonction : Auteur

Dates et versions

hal-00549508 , version 1 (22-12-2010)

Identifiants

Citer

X. Ma, K.M.B. Jansen, G.Q. Zhang, W.D. van Driel, O. van Der Sluis, et al.. A fast moisture sensitivity level qualification method. Microelectronics Reliability, 2010, 50 (Issues 9-11), pp.1654-1660. ⟨10.1016/j.microrel.2010.07.066⟩. ⟨hal-00549508⟩
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