Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2010
Hélène Fremont : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00549508
Soumis le : mercredi 22 décembre 2010-10:07:05
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00549508 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2010.07.066
Citer
X. Ma, K.M.B. Jansen, G.Q. Zhang, W.D. van Driel, O. van Der Sluis, et al.. A fast moisture sensitivity level qualification method. Microelectronics Reliability, 2010, 50 (Issues 9-11), pp.1654-1660. ⟨10.1016/j.microrel.2010.07.066⟩. ⟨hal-00549508⟩
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