Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2010
Hélène Fremont : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00549502
Soumis le : mercredi 22 décembre 2010-10:02:05
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:12
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00549502 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2010.07.076
Citer
P. Lecuyer, H. Fremont, J.-P. Landesman, M.-A. Bahi. Wearout estimation using the Robustness Validation methodology for components in 150 °C ambient automotive applications. Microelectronics Reliability, 2010, 50 (Issues 9-11), pp.1744-1749. ⟨10.1016/j.microrel.2010.07.076⟩. ⟨hal-00549502⟩
47
Consultations
0
Téléchargements