Article Dans Une Revue
Thin Solid Films
Année : 2010
Collection IEMN : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00549008
Soumis le : mardi 21 décembre 2010-10:14:51
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Citer
S. Wang, L. He, El Hadj Dogheche, Jie Chen, J. Wang, et al.. Growth and structure characterization of epitaxial Bi2Sr2Co2Oy thermoelectric thin films on LaAlO3 (001). Thin Solid Films, 2010, 518, pp.6829-6832. ⟨10.1016/j.tsf.2010.06.060⟩. ⟨hal-00549008⟩
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