Validation of the 2 temperatures noise model using pre-matched transistors in W-band for sub-65 nm technology - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Microwave and Wireless Components Letters Année : 2010

Validation of the 2 temperatures noise model using pre-matched transistors in W-band for sub-65 nm technology

N. Waldhoff
  • Fonction : Auteur
Y. Tagro
  • Fonction : Auteur
D. Gloria
  • Fonction : Auteur
F. Gianesello
  • Fonction : Auteur
Francois Danneville
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00548601 , version 1 (20-12-2010)

Identifiants

Citer

N. Waldhoff, Y. Tagro, D. Gloria, F. Gianesello, Francois Danneville, et al.. Validation of the 2 temperatures noise model using pre-matched transistors in W-band for sub-65 nm technology. IEEE Microwave and Wireless Components Letters, 2010, 20, pp.274-276. ⟨10.1109/LMWC.2010.2045588⟩. ⟨hal-00548601⟩
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