Article Dans Une Revue
IEEE Microwave and Wireless Components Letters
Année : 2010
Collection IEMN : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00548601
Soumis le : lundi 20 décembre 2010-10:00:52
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Citer
N. Waldhoff, Y. Tagro, D. Gloria, F. Gianesello, Francois Danneville, et al.. Validation of the 2 temperatures noise model using pre-matched transistors in W-band for sub-65 nm technology. IEEE Microwave and Wireless Components Letters, 2010, 20, pp.274-276. ⟨10.1109/LMWC.2010.2045588⟩. ⟨hal-00548601⟩
Collections
34
Consultations
0
Téléchargements