Self-heating phenomena in high-power III-N transistors and new thermal characterization methods developed within EU project TARGET - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue International Journal of Microwave and Wireless Technologies Année : 2009

Self-heating phenomena in high-power III-N transistors and new thermal characterization methods developed within EU project TARGET

J. Kuzmik
  • Fonction : Auteur
S. Bychikhin
  • Fonction : Auteur
E. Pichonat
E. Morvan
  • Fonction : Auteur
E. Kohn
  • Fonction : Auteur
J.P. Teyssier
  • Fonction : Auteur
D. Pogany
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00548556 , version 1 (20-12-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00548556 , version 1

Citer

J. Kuzmik, S. Bychikhin, E. Pichonat, Christophe Gaquière, E. Morvan, et al.. Self-heating phenomena in high-power III-N transistors and new thermal characterization methods developed within EU project TARGET. International Journal of Microwave and Wireless Technologies, 2009, 1, pp.153-160. ⟨hal-00548556⟩
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