Defects Tolerant Logic Gates for Unreliable Future Nanotechnologies - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2007
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00547514 , version 1 (16-12-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00547514 , version 1

Citer

Lorena Anghel, M. Nicolaidis. Defects Tolerant Logic Gates for Unreliable Future Nanotechnologies. Special Session of International Work-Conference on Artificial Neural Networks (IWANN'07), Jun 2007, San Sebastian, Spain. ⟨hal-00547514⟩

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