Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2010
Olivier Briat : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00527080
Soumis le : lundi 18 octobre 2010-09:56:44
Dernière modification le : vendredi 9 février 2024-10:37:00
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00527080 , version 1
Citer
Olivier Briat, Jean-Michel Vinassa, Nicolas Bertrand, Hassane El Brouji, Jean-Yves Delétage, et al.. Contribution of calendar ageing modes in the performances degradation of supercapacitors during power cycling. Microelectronics Reliability, 2010, 50, pp.1796-1803. ⟨hal-00527080⟩
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