Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2010
Anne-Marie Colin : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00514516
Soumis le : jeudi 2 septembre 2010-16:49:32
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00514516 , version 1
Citer
S. Gallois-Garreignot, Vincent Fiori, Daniel Nelias. Fracture phenomena induced by Front-End/Back-End interactions: Dedicated failure analysis and numerical developments. Microelectronics Reliability, 2010, 50 (1), pp.75-85. ⟨hal-00514516⟩
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