Fracture phenomena induced by Front-End/Back-End interactions: Dedicated failure analysis and numerical developments - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2010

Fracture phenomena induced by Front-End/Back-End interactions: Dedicated failure analysis and numerical developments

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Génie mécanique [physics.class-ph] Génie mécanique [physics.class-ph]

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https://hal.science/hal-00514516

Soumis le : jeudi 2 septembre 2010-16:49:32

Dernière modification le : vendredi 27 septembre 2024-09:59:05

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Dates et versions

hal-00514516 , version 1 (02-09-2010)

Identifiants

Citer

Sébastien Gallois-Garreignot, Vincent Fiori, Daniel Nelias. Fracture phenomena induced by Front-End/Back-End interactions: Dedicated failure analysis and numerical developments. Microelectronics Reliability, 2010, 50 (1), pp.75-85. ⟨10.1016/j.microrel.2009.09.009⟩. ⟨hal-00514516⟩

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