Article Dans Une Revue
Quality and Reliability Engineering International
Année : 2007
Evans Gouno : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00493841
Soumis le : lundi 21 juin 2010-14:22:13
Dernière modification le : lundi 11 mars 2024-14:40:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00493841 , version 1
Citer
Evans Gouno. Optimum step-stress for temperature accelerated life test. Quality and Reliability Engineering International, 2007, 23, pp.915-924. ⟨hal-00493841⟩
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