Article Dans Une Revue
Integrated Ferroelectrics
Année : 2008
Soline Boyer : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00492043
Soumis le : lundi 14 juin 2010-22:53:53
Dernière modification le : lundi 16 septembre 2024-17:52:04
Citer
V. Edon, M.C. Hugon, B. Agius, K.P. Bastos, L. Miotti, et al.. EFFECTS OF NITROGEN INCORPORATION IN LANTHANUM-BASED DIELECTRIC FILMS. Integrated Ferroelectrics, 2008, pp.129. ⟨10.1080/10584580802088991⟩. ⟨hal-00492043⟩
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