Die Attach Interface Property Characterization as Function of Temperature Using Cohesive Zone Modeling Method - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Die Attach Interface Property Characterization as Function of Temperature Using Cohesive Zone Modeling Method

Xiaosong Ma
  • Fonction : Auteur
G.Q. Zhang
  • Fonction : Auteur
Olaf van Der Sluis
  • Fonction : Auteur
Kaspar M.B. Jansen
  • Fonction : Auteur
Willem D van Driel
  • Fonction : Auteur
Leo J. Ernst
  • Fonction : Auteur
Christian Gautier
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00477599 , version 1 (29-04-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00477599 , version 1

Citer

Xiaosong Ma, G.Q. Zhang, Olaf van Der Sluis, Kaspar M.B. Jansen, Willem D van Driel, et al.. Die Attach Interface Property Characterization as Function of Temperature Using Cohesive Zone Modeling Method. 2010 11th International Conference on Thermal, Mechanical & Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems, Apr 2010, France. pp.121. ⟨hal-00477599⟩
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