Topography and work function measurements of thin MgO(001) films on Ag(001) by nc-AFM and KPFM - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Physical Chemistry Chemical Physics Année : 2010

Topography and work function measurements of thin MgO(001) films on Ag(001) by nc-AFM and KPFM

M. Bielezki
  • Fonction : Auteur
T. Soini
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M. Pivetta
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C.R. Henry
  • Fonction : Auteur
Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille
A.S. Foster
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F. Esch
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C. Barth
Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille
CV
U. Heiz
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Soumis le : lundi 26 avril 2010-16:08:01

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:53

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Dates et versions

hal-00476532 , version 1 (26-04-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00476532 , version 1

Citer

M. Bielezki, T. Soini, M. Pivetta, C.R. Henry, A.S. Foster, et al.. Topography and work function measurements of thin MgO(001) films on Ag(001) by nc-AFM and KPFM. Physical Chemistry Chemical Physics, 2010, 12 (13), pp.3203-3209. ⟨hal-00476532⟩

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