Article Dans Une Revue
Thin Solid Films
Année : 2010
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https://hal.science/hal-00475836
Soumis le : vendredi 23 avril 2010-10:08:12
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:53
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00475836 , version 1
Citer
A. Spiesser, L.A. Michez, A. Watanabe, V. Le Thanh, A. Glachant, et al.. Effect of thickness on structural and magnetic properties of Mn5Ge3 films grown on Ge(111) by solid phase epitaxy. Thin Solid Films, 2010, 518, pp.113-117. ⟨hal-00475836⟩
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