Six-port based near-field millimeter-wave microscope using a slit scanning probe - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Six-port based near-field millimeter-wave microscope using a slit scanning probe

M.M. Wang
  • Fonction : Auteur
Kamel Haddadi
CV
O. Benzaim
  • Fonction : Auteur
D. Glay
T. Lasri
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 751883
  • IdHAL : tuami-lasri
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520

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https://hal.science/hal-00474442

Soumis le : mardi 20 avril 2010-10:11:29

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00474442 , version 1 (20-04-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00474442 , version 1

Citer

M.M. Wang, Kamel Haddadi, O. Benzaim, D. Glay, T. Lasri. Six-port based near-field millimeter-wave microscope using a slit scanning probe. 4th International Conference on Electromagnetic Near-Field Characterization and Imaging, ICONIC 2009, 2009, Taiwan. pp.17-22, Honorable Award. ⟨hal-00474442⟩

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