Communication Dans Un Congrès
Année : 2009
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https://hal.science/hal-00474097
Soumis le : lundi 19 avril 2010-10:21:19
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Citer
Y. Tagro, D. Gloria, S. Boret, Y. Morandini, Gilles Dambrine. In-situ silicon integrated tuner for automated on-wafer MMW noise parameters extraction using multi-impedance method for transistor characterization. 22nd IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS 2009, 2009, United States. pp.184-188, ⟨10.1109/ICMTS.2009.4814637⟩. ⟨hal-00474097⟩
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