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Communication Dans Un Congrès Année : 2009

In-situ silicon integrated tuner for automated on-wafer MMW noise parameters extraction using multi-impedance method for transistor characterization

Y. Tagro
  • Fonction : Auteur
D. Gloria
  • Fonction : Auteur
S. Boret
  • Fonction : Auteur
Y. Morandini
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00474097 , version 1 (19-04-2010)

Identifiants

Citer

Y. Tagro, D. Gloria, S. Boret, Y. Morandini, Gilles Dambrine. In-situ silicon integrated tuner for automated on-wafer MMW noise parameters extraction using multi-impedance method for transistor characterization. 22nd IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS 2009, 2009, United States. pp.184-188, ⟨10.1109/ICMTS.2009.4814637⟩. ⟨hal-00474097⟩
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