An electrical evaluation method for the silicidation of silicon nanowires
Xing Tang
,
N. Reckinger
,
V. Bayot
,
D. Flandre
,
Emmanuel Dubois
,
Dmitri Yarekha
,
G. Larrieu
(1)
,
Aurélie Lecestre
,
J. Ratajczak
,
N. Breil
,
V. Passi
,
J.P. Raskin
Xing Tang
- Fonction : Auteur
N. Reckinger
- Fonction : Auteur
V. Bayot
- Fonction : Auteur
D. Flandre
- Fonction : Auteur
Emmanuel Dubois
- Fonction : Auteur
- PersonId : 738944
- IdHAL : emmanuel-dubois-iemn
- ORCID : 0000-0002-0347-010X
- IdRef : 134290291
Dmitri Yarekha
- Fonction : Auteur
- PersonId : 746988
- IdHAL : dmitri-yarekha
- IdRef : 068447507
Aurélie Lecestre
- Fonction : Auteur
- PersonId : 753470
- IdHAL : aurelie-lecestre
- ORCID : 0000-0003-2251-1226
J. Ratajczak
- Fonction : Auteur
N. Breil
- Fonction : Auteur
V. Passi
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J.P. Raskin
- Fonction : Auteur