An electrical evaluation method for the silicidation of silicon nanowires - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Applied Physics Letters Année : 2009

An electrical evaluation method for the silicidation of silicon nanowires

Xing Tang
  • Fonction : Auteur
N. Reckinger
  • Fonction : Auteur
V. Bayot
  • Fonction : Auteur
D. Flandre
  • Fonction : Auteur
Emmanuel Dubois
Dmitri Yarekha
Aurélie Lecestre
J. Ratajczak
  • Fonction : Auteur
N. Breil
  • Fonction : Auteur
V. Passi
  • Fonction : Auteur
J.P. Raskin
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00471971 , version 1 (09-04-2010)

Identifiants

Citer

Xing Tang, N. Reckinger, V. Bayot, D. Flandre, Emmanuel Dubois, et al.. An electrical evaluation method for the silicidation of silicon nanowires. Applied Physics Letters, 2009, 95, pp.023106-1-3. ⟨10.1063/1.3171929⟩. ⟨hal-00471971⟩
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