Improved characterization methology for MOSFETs up to 220 GHz - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques Année : 2009

Improved characterization methology for MOSFETs up to 220 GHz

N. Waldhoff
  • Fonction : Auteur
C. Andrei
  • Fonction : Auteur
D. Gloria
  • Fonction : Auteur
Sylvie Lepilliet
Francois Danneville
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00471808 , version 1 (09-04-2010)

Identifiants

Citer

N. Waldhoff, C. Andrei, D. Gloria, Sylvie Lepilliet, Francois Danneville, et al.. Improved characterization methology for MOSFETs up to 220 GHz. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 2009, 57, pp.1237-1243. ⟨10.1109/TMTT.2009.2017359⟩. ⟨hal-00471808⟩
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