Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
Année : 2009
Collection IEMN : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00471808
Soumis le : vendredi 9 avril 2010-08:15:53
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Citer
N. Waldhoff, C. Andrei, D. Gloria, Sylvie Lepilliet, Francois Danneville, et al.. Improved characterization methology for MOSFETs up to 220 GHz. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 2009, 57, pp.1237-1243. ⟨10.1109/TMTT.2009.2017359⟩. ⟨hal-00471808⟩
Collections
55
Consultations
0
Téléchargements