Multiple tests for high-throughput data assuming a factor modeling of dependence - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2008

Multiple tests for high-throughput data assuming a factor modeling of dependence

Domaines

Statistiques [math.ST] Théorie [stat.TH]

Marie-Annick Guillemer  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00461705

Soumis le : vendredi 5 mars 2010-14:31:11

Dernière modification le : lundi 22 avril 2024-10:00:45

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00461705 , version 1 (05-03-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00461705 , version 1

Citer

Chloé Friguet, David Causeur. Multiple tests for high-throughput data assuming a factor modeling of dependence. 40th Journées de Statistiques (Société Française de Statistiques) / joint with Société Statistique, May 2008, Ottawa, Canada. ⟨hal-00461705⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

UNIV-RENNES1 IRMAR UR2-HB CNRS INSA-RENNES UNAM IRMAR-STAT UR1-MATH-STIC UNIV-RENNES2 UNIV-RENNES INSA-GROUPE UR1-MATH-NUM INSTITUT-AGRO-RENNES-ANGERS-UMR-IRMAR INSTITUT-AGRO-RENNES-ANGERS
172 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More