Characterization of thin inp anodic oxide layers : Correlation of morphological investigations with chemical and electrical properties - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Comptes Rendus. Chimie Année : 2008

Characterization of thin inp anodic oxide layers : Correlation of morphological investigations with chemical and electrical properties

Natalie Simon
  • Fonction : Auteur
C. Decorse-Pascanut
  • Fonction : Auteur
S. Jaskierowicz
  • Fonction : Auteur
And A. Etcheberry
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00453704 , version 1 (05-02-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00453704 , version 1

Citer

Natalie Simon, L. Santinacci, C. Decorse-Pascanut, S. Jaskierowicz, And A. Etcheberry. Characterization of thin inp anodic oxide layers : Correlation of morphological investigations with chemical and electrical properties. Comptes Rendus. Chimie, 2008, 11 (9), pp.1030-1036. ⟨hal-00453704⟩
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