Réflectométrie de Rayons-X en incidence rasante
Résumé
Présentation de la technique de réflectométrie de rayons-X
Communication Dans Un Congrès
Année : 2009
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https://hal.science/hal-00450950
Soumis le : mercredi 27 janvier 2010-17:19:15
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:12
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00450950 , version 1
Citer
Arie Van-Der-Lee. Réflectométrie de Rayons-X en incidence rasante. Colloque de l'Association Tunisienne de Cristallographie, Mar 2009, Bizerte, Tunisie. ⟨hal-00450950⟩
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