Measuring and Improving Design Patterns Testability - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2003

Measuring and Improving Design Patterns Testability

Benoît Baudry
  • Fonction : Auteur
Yves Le Traon
  • Fonction : Auteur
Gerson Sunyé
Laboratoire d'Informatique de Nantes Atlantique
CV
Jean-Marc Jézéquel

Résumé

no abstract

Domaines

Algorithme et structure de données [cs.DS] Base de données [cs.DB]

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https://hal.science/hal-00448043

Soumis le : lundi 18 janvier 2010-11:37:53

Dernière modification le : vendredi 5 janvier 2024-03:24:38

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00448043 , version 1 (18-01-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00448043 , version 1

Citer

Benoît Baudry, Yves Le Traon, Gerson Sunyé, Jean-Marc Jézéquel. Measuring and Improving Design Patterns Testability. 9th IEEE International Software Metrics Symposium (METRICS 2003), 2003, Australia. pp.50-61. ⟨hal-00448043⟩

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