Accurate Transient Behavior Measurement of High- Voltage ESD Protections Based on a Very Fast Transmission-Line Pulse System - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Accurate Transient Behavior Measurement of High- Voltage ESD Protections Based on a Very Fast Transmission-Line Pulse System

Antoine Delmas
  • Fonction : Auteur correspondant
  • PersonId : 865951

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Freescale Semiconducteurs
Nicolas Nolhier
Équipe Intégration de Systèmes de Gestion de l'Énergie
David Trémouilles
Équipe Intégration de Systèmes de Gestion de l'Énergie
CV
Marise Bafleur
Équipe Intégration de Systèmes de Gestion de l'Énergie
CV
Nicolas Mauran
LAAS-II
CV
Amaury Gendron
  • Fonction : Auteur
Freescale Semiconducteurs

Résumé

A comprehensive study of the limitations of vf-TLP setup for transient measurements is exposed. A new method, based on a numerical correction of measured data using a commercial Oryx vf-TLP system is presented. It allows the measurement of ESD pulses up to 1000 V with a time resolution down to 60 ps.

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique
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Marise Bafleur  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00445676

Soumis le : lundi 11 janvier 2010-09:45:15

Dernière modification le : lundi 20 novembre 2023-11:44:22

Archivage à long terme le : vendredi 18 juin 2010-00:38:51

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Dates et versions

hal-00445676 , version 1 (11-01-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00445676 , version 1

Citer

Antoine Delmas, Nicolas Nolhier, David Trémouilles, Marise Bafleur, Nicolas Mauran, et al.. Accurate Transient Behavior Measurement of High- Voltage ESD Protections Based on a Very Fast Transmission-Line Pulse System. 31st Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, 2009. EOS/ESD Symposium, Aug 2009, ANAHEIM, United States. pp.165-172. ⟨hal-00445676⟩

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