Fast and accurate measurement of the RMS value of a noncoherent sampled sine-wafe - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2009
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00417635 , version 1 (16-09-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00417635 , version 1

Citer

Daniel Belega, Dominique Dallet. Fast and accurate measurement of the RMS value of a noncoherent sampled sine-wafe. IMEKO XIX World Congress : Fundamental and Applied Technology, Sep 2009, Lisbonne, Portugal. pp.792-796. ⟨hal-00417635⟩
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