Uni-axial mechanical stress effect on Trench Punch through IGBT under short-circuit operation - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2009
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Dates et versions

hal-00414779 , version 1 (10-09-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00414779 , version 1

Citer

Yassine Belmehdi, Stephane Azzopardi, Adel Benmansour, Jean-Yves Delétage, Eric Woirgard. Uni-axial mechanical stress effect on Trench Punch through IGBT under short-circuit operation. Microelectronics Reliability, 2009, 49, pp.1398-1403. ⟨hal-00414779⟩
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